Automatyzacja pomiarów C-V dla wysokich i niskich częstotliwości oraz obliczenia gęstości pułapek granicznych (DIT) kondensatorów MOS przy użyciu analizatora parametrów 4200A-SCS

Pomiary pojemności i napięcia (C-V) są powszechnie stosowane do badania jakości struktury bramka-tlenek. Pomiary te są wykonywane na urządzeniu z dwoma elektrodami zwanym kondensatorem MOS, który jest w zasadzie tranzystorem MOSFET bez źródła i drenu. Dane […]

[ONLINE] Tektronix Innovation Forum 2021

Firma Tektronix, wiodący producent sprzętu pomiarowego, zaprasza na wydarzenie Tektronix Innovation Forum 2021. Wydarzenie odbędzie się online w dniach 22-23 czerwca 2021. Podczas wydarzenia eksperci przedstawią najświeższe nowości oraz trendy w wysokiej jakości urządzeniach pomiarowych. […]

[WEBINARIUM] Wybrane zagadnienia pomiarowe w nowoczesnej inżynierii materiałowej – charakteryzacja prądowo-napięciowa (I-V) nanostruktur, materiałów dielektrycznych i półprzewodnikowych

Tespol oraz Tektronix zapraszają na webinarium, poświęcone tematyce zagadnień pomiarowych w nowoczesnej inżynierii materiałowej. Prezentacja odbędzie się w dwóch sesjach i w dwóch językach: polskim i angielskim. Podczas webinarium zaprezentowane zostanie sposób użycia precyzyjnych przyrządów […]

[ONLINE] Optical Technology & Innovation Week

Tektronix wraz z Tespol Engineering serdecznie zaprasza wszystkich inżynierów, pedagogów i innowatorów zainteresowanych technologiami optycznymi, fotonicznymi i Data Center do udziału w serii wydarzeń on-line, które odbędą się w dniach 30.09-02.10.2020. Wydarzenie stanowi połączenie wiedzy […]