Automatyzacja pomiarów C-V dla wysokich i niskich częstotliwości oraz obliczenia gęstości pułapek granicznych (DIT) kondensatorów MOS przy użyciu analizatora parametrów 4200A-SCS

Pomiary pojemności i napięcia (C-V) są powszechnie stosowane do badania jakości struktury bramka-tlenek. Pomiary te są wykonywane na urządzeniu z dwoma elektrodami zwanym kondensatorem MOS, który jest w zasadzie tranzystorem MOSFET bez źródła i drenu. Dane […]