Wystawa elektronicznej aparatury pomiarowej Rohde & Schwarz

13.03.2013 r. w Katowicach odbędzie się wystawa elektronicznej aparatury pomiarowej firmy Rohde & Schwarz. Na wystawie, której nazwa brzmi “Value Instruments by Rohde & Schwarz“, zaprezentowane zostaną wszystkie rodzaje uniwersalnych przyrządów pomiarowych, niezbędnych w badaniach i rozwoju oraz produkcji urządzeń elektronicznych.
Na wystawie będą prezentowane następujące kategorie przyrządów:
- Elektroniczne laboratoryjne przyrządy pomiarowe ogólnego przeznaczenia (multimetry, generatory sygnałowe, mierniki RLC, zasilacze, oscyloskopy, …),
- Przyrządy i rozwiązania pomiarowe RF (analizatory widma, analizatory obwodów, mierniki mocy…),
- Przyrządy do badań wstępnych kompatybilności elektromagnetycznej EMC.
Wydarzenie to będzie okazją do konsultacji z ekspertami w dziedzinie techniki pomiarowej. Podczas wystawy czterech ekspertów z firmy Rohde & Schwarz odpowie na pytania uczestników.
Wstęp na wystawę jest bezpłatny. Uczestnictwo wymaga wcześniejszej rejestracji. Więcej informacji dostępnych jest na stronie internetowej firmy Rohde & Schwarz.
Data, godzina i miejsce wystawy: 13.03.2013 r., 09:00-13:00, Hotel Qubus Prestige (Sala Turkusowa), ul. Uniwersytecka 13, 40-007 Katowice

PPTF i ARP S.A. organizują program staży w zakresie mikroelektroniki
Ustawa o systemach AI – bezpieczny rozwój sztucznej inteligencji w Polsce
Energa Operator z dofinansowaniem 338 mln PLN na stacje ładowania dla ciężarówek 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)



