Tester powierzchni tektury i kartonu firmy L&W

Parametr mierzony przez urządzenie to tzw. mikroodchylenie (microdeviation). Jest on miarą określającą topografię powierzchni kartonu lub tektury, korelującą dobrze z łatwością drukowania na danej powierzchni i jakością wydruku. Nowy przyrząd jest udoskonalonym zamiennikiem znanego i używanego szeroko w przemyśle urządzenia EMVECO Stylus Roughness Profiler System 210-R.
Cały pomiar i analiza wykonywane są wewnątrz urządzenia, nie jest potrzebne żadne dodatkowe oprogramowanie czy komputer sterujący. Procedura pomiarowa jest w pełni zautomatyzowana. Obecność próbki wykrywa fotokomórka. Głowica jest wtedy opuszczana na powierzchnię materiału, a następnie porusza się wzdłuż niej ze stałą prędkością względną. Po pokonaniu zadanego dystansu, głowica jest podnoszona, a próbka jest automatycznie ustawiana w następnej pozycji pomiarowej. Każdy pomiar trwa mniej niż 10 sekund.
Przyrząd zaprojektowano przywiązując wagę do ergonomii i wydajności. Łatwy w użyciu kolorowy ekran dotykowy o krótkim czasie reakcji i wysokiej rozdzielczości pozwolił zrealizować intuicyjne, wygodne menu. Dzięki zintegrowanemu podajnikowi taśmowemu, łatwo wykonywać można analizy powierzchni o znacznych długościach, które da się dodatkowo przyspieszać dzięki opcjom wykonywania pomiarów z różną częstotliwością w różnych miejscach.
Firma Lorentzen & Wettre, założona w 1895 roku, specjalizuje się w rozwiązaniach dla branży papierniczej. Działa w kilkudziesięciu krajach świata, a jej siedziba mieści się w Sztokholmie. Firma jest częścią wydziału automatyzacji procesów grupy ABB.
Szczegółowe informacje można znaleźć na stronie.
Więcej informacji: Soyter Sp. z o.o., Klaudyn, ul. Ekologiczna 14/16, 05-080 Izabelin, http://www.soyter.pl.

Defence.Hub ma umowę o współpracy z Vector Synergy na dystrybucję systemu MACS
Większe przychody Liftero – producenta nietoksycznych napędów kosmicznych
Microchip wprowadza rozwiązania w zakresie synchronizacji czasu do zastosowań kosmicznych 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)



