5 listopada odbędzie się seminarium „Measurement and EM Simulation – Effective design of microwave circuits”. Seminarium organizowane jest wspólnie przez firmę CST (Computer Simulation Technology), producenta oprogramowania do symulacji elektro-magnetycznych 3D, oraz R&S (Rohde & Schwarz), producenta aparatury pomiarowej.

Agenda seminarium

• Introduction CST AG and Rohde & Schwarz    
• Motivation for coupling EM simulation and measurement (CST)    
• R&S Vector Network Analyzers – overview, applications (R&S)    
• Optenni Lab – Matching network synthesis via the real-time connection to VNA (CST)
• VNA calibration techniques (CTU)    
• Extraction of substrate complex permittivity using measured data (CST, R&S)    
• Low-pass filter design in CST Studio Suite (CST)    
• Using Rohde & Schwarz ZNB VNA to measure the LPF designed, other VNA applications (R&S)

Seminarium odbędzie się 5 listopada w Warszawie (Biurowiec INTRACO – ul. Stawki 2). Planowane rozpoczęcie – godz. 9:30, zakończenie – ok. 16:30.  W trakcie seminarium przerwa na lunch.  Uczestnictwo jest bezpłatne.

Więcej informacji, w tym formularz rejestracji, można znaleźć tutaj.