Keysight Technologies prezentuje sondy oscyloskopowe do pomiarów wysokonapięciowych

Firma Keysight Technologies zaprezentowała nowe wysokonapięciowe sondy oscyloskopowe na pasma 200, 300 i 500 MHz, charakteryzujące się szerszym zakresem napięć wejściowych i zwiększonym współczynnikiem tłumienia składowej sumacyjnej, dostarczane wraz ze zoptymalizowanym zestawem akcesoriów. Sondy te nadają się idealnie do testowania obecnych zasilaczy impulsowych i komponentów dużej mocy, a także do pomiarów parametrów napędów elektrycznych i podsystemów samochodowych.

Sonda różnicowa Keysight N2804A oferuje pasmo o szerokości do 300 MHz oraz maksymalny zakres dla wejściowych sygnałów różnicowych wynoszący ±300 (Vdc + wartość szczytowa AC), co pozwala na jej zastosowania w aplikacjach dużej mocy. Sonda różnicowa N2805A o paśmie 200 MHz została wyposażona w kabel o długości 5 m zapewniający łatwy dostęp do obwodów testowanych znajdujących się w znacznej odległości od oscyloskopu.

Obie sondy charakteryzują się różnicową rezystancją wejściową 4 MW i małą pojemnością wejściową równą 4 pF, dzięki czemu w minimalnym stopniu obciążają testowany obwód. Są kompatybilne z oscyloskopami Keysight z interfejsem 50 Ω AutoProbe zapewniającym automatyczną konfigurację oscyloskopu do zastosowanej sondy.

Sonda pasywna Keysight 10076C 100:1 o rezystancji wejściowej 66,7 MΩ zapewnia szerokość zakresu napięć wejściowych i pasmo niezbędne do prowadzenia pomiarów wysokonapięciowych względem masy przy bardzo małym obciążeniu testowanego obwodu. Zapewnia szerokość pasma wynoszącą 500 MHz przy zastosowaniu sprężystej końcówki ekranującej, mającej za zadanie zmniejszyć obciążenie indukcyjne.

Więcej informacji dotyczących sond różnicowych Keysight N2804A i N2805A można znaleźć pod adresem. Informacje dotyczące sondy pasywnej Keysight 10076C są dostępne pod adresem.

Dystrybutorem produktów Keysight Technologies w Polsce jest firma AM Technologies Sp. z o.o., Al. Jerozolimskie 146c, 02-305 Warszawa, tel. 22 5322800, fax 22 5322828, e-mail: info@amt.pl.

O autorze