Cykl seminariów National Instruments: systemy testujące w przemyśle i badaniach

Firma National Instruments zaprasza na bezpłatne, czterogodzinne seminarium poświęcone systemom testującym. Spotkanie dedykowane jest dla inżynierów, kadry zarządzającej oraz wszystkich osób odpowiedzialnych za projektowanie i utrzymywanie testerów.
Tematyka seminarium:
- Omówienie uniwersalnej platformy testującej opartej na modułowych przyrządach pomiarowych
- Programowanie testerów: tworzenie kroków testowych, przegląd dostępnych modeli procesów testowych; zrównoleglenie testów
- Testy układów radiokomunikacyjnych i radioelektronicznych
- Testy typu HIL; walidacja elektroniki
- Rozwiązania do testów wytrzymałościowych dynamicznych i zmęczeniowych; pomiary wartości nieelektrycznych
- Rejestratory do prób długoterminowych
- Szkolenia i certyfikacja, usługi integratorskie
W czasie spotkania powyższe tematy zostaną poparte praktycznymi przykładami.
Seminaria odbędą się w następujących miastach: Gdańsk (14 kwietnia), Warszawa (15 kwietnia), Rzeszów (16 kwietnia), Kraków (17 kwietnia), Katowice (21 kwietnia), Wrocław (22 kwietnia), Poznań (23 kwietnia), Bydgoszcz (24 kwietnia).
Więcej informacji można znaleźć tutaj.

PPTF i ARP S.A. organizują program staży w zakresie mikroelektroniki
Ustawa o systemach AI – bezpieczny rozwój sztucznej inteligencji w Polsce
Energa Operator z dofinansowaniem 338 mln PLN na stacje ładowania dla ciężarówek 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)



