5 listopada odbędzie się seminarium „Measurement and EM Simulation – Effective design of microwave circuits”. Seminarium organizowane jest wspólnie przez firmę CST (Computer Simulation Technology), producenta oprogramowania do symulacji elektro-magnetycznych 3D, oraz R&S (Rohde & Schwarz), producenta aparatury pomiarowej.
Agenda seminarium
- Introduction CST AG and Rohde & Schwarz
- Motivation for coupling EM simulation and measurement (CST)
- R&S Vector Network Analyzers – overview, applications (R&S)
- Optenni Lab – Matching network synthesis via the real-time connection to VNA (CST)
- VNA calibration techniques (CTU)
- Extraction of substrate complex permittivity using measured data (CST, R&S)
- Low-pass filter design in CST Studio Suite (CST)
- Using Rohde & Schwarz ZNB VNA to measure the LPF designed, other VNA applications (R&S)
Seminarium odbędzie się 5 listopada w Warszawie (Biurowiec INTRACO – ul. Stawki 2). Planowane rozpoczęcie – godz. 9:30, zakończenie – ok. 16:30. W trakcie seminarium przerwa na lunch. Uczestnictwo jest bezpłatne.
Więcej informacji, w tym formularz rejestracji, można znaleźć tutaj.
