Farnell publikuje e-book na temat Przemysłu 4.0, prezentując poglądy ekspertów z branży

Farnell opublikował dziś nowy e-book, zatytułowany „The Industry 4.0 Interviews 2020”. Zawiera on zbiór poglądów prezentowanych przez ekspertów z firm Festo, Omega, Molex, Panasonic i Schneider Electric, dotyczących rozwoju Przemysłowego Internetu Rzeczy (IIoT – Industrial Internet of Things) oraz powiązanych technologii. Nowy, anglojęzyczny e-book dostarcza wartościowych wskazówek dla firm zajmujących się budowaniem paneli operatorskich stosowanych w automatyce. Będzie on także interesujący dla integratorów systemów, projektantów, inżynierów przemysłowych i elektroników oraz osób zajmujących się naprawami i pracami konserwacyjnymi.

Tematy poruszane w e-booku obejmują ogólne spojrzenie na globalny rynek IIoT, wskazówki odnośnie kluczowych produktów i narzędzi wspierających wdrażanie i rozwijanie technologii Przemysłu 4.0, a także przewidywania przyszłości Przemysłowego Internetu Rzeczy. Nowy e-book zawiera także cenne porady dla osób planujących nowe projekty. Pomaga tym samym w projektowaniu i utrzymaniu sprzętu przemysłowego, robotów, inteligentnych budynków i fabryk, a w tym:

• w jaki sposób możliwość zaprezentowania zalet Przemysłowego Internetu Rzeczy jest kluczowa do pokonania niechęci wdrażania nowych technologii w placówkach produkcyjnych;
• jak obawy o bezpieczeństwo danych przechowywanych w chmurze mogą być rozwiane dzięki zaimplementowaniu odpowiednich, kompleksowych rozwiązań z zakresu bezpieczeństwa IoT;
• w jaki sposób automatyzację przemysłu można rozpocząć od prostej konserwacji predykcyjnej, jednocześnie zwiększając produktywność i efektywność oraz redukując przestoje;
• rola, jaką sztuczna inteligencja odgrywa w odniesieniu do sposobu działania i niezawodności systemów wbudowanych;
• brak doświadczenia w implementacji systemów faktycznie obejmujących wszystkie aspekty biznesowe, utrudniający implementację Przemysłowego Internetu Rzeczy.

E-book „The Industry 4.0 Interviews 2020” jest dostępny bezpłatnie do pobrania ze strony Farnell.