Firma Anritsu Corporation we współpracy z Fujikura Ltd. zmierzyła przesłuchy między rdzeniami w słabo sprzężonych światłowodach wielordzeniowych. W pomiarach zastosowano wiele metod, które dały równoważne wyniki. Obie firmy przedstawiły efekty swoich badań podczas międzynarodowej konferencji OptoElectronics and Communications Conference (OECC 2025) w Sapporo w Japonii.

Wraz z rosnącą popularnością sztucznej inteligencji (AI) i usług w chmurze szybko rośnie zapotrzebowanie na większą przepustowość kabli podmorskich i połączeń między centrami danych. Dzisiejsza komunikacja optyczna opiera się na światłowodach jednomodowych (SMF) i zaawansowanych technologiach optymalizacji sygnału, aby osiągnąć wysoką przepustowość danych. Jednak w miarę jak przepustowość pojedynczego włókna rośnie, technologie te zbliżają się do swoich fizycznych i wydajnościowych granic.

W związku z tym ostatnie badania i rozwój koncentrują się na słabo sprzężonych światłowodach wielordzeniowych z wieloma niezależnymi rdzeniami w jednym światłowodzie. Mimo, że ten typ światłowodu znacznie zwiększa przepustowość transmisji, przesłuch między rdzeniami – spowodowany interferencją wynikającą z wycieku światła między poszczególnymi rdzeniami – pogarsza jakość transmisji. Współdziałanie to różni się nie tylko w zależności od projektu i produkcji światłowodu, ale także od warunków instalacji. Wymaga to oceny współdziałania między rdzeniami w warunkach terenowych. Chociaż różne firmy i instytucje badawcze zaproponowały różne metody pomiaru przesłuchu inter-core, wyniki uzyskane każdą z tych metod nie zostały jeszcze odpowiednio zweryfikowane.

W przedstawionej ocenie porównawczej firma Anritsu we współpracy z Fujikura zmierzyła przesłuchy inter-core przy użyciu czterech metod: dwóch z wykorzystaniem mierników mocy optycznej i dwóch z wykorzystaniem reflektometru optycznego OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) firmy Anritsu do pomiaru strat i odbicia światłowodu. Oceniane czterordzeniowe słabo sprzężone światłowody wielordzeniowe produkowane przez Fujikura mają standardową średnicę płaszcza 125 µm. Wyniki pomiarów uzyskanych każdą z metod mieściły się w zakresie ±1,0 dB przy 1550 nm. W związku z tym można wybrać dowolną z tych czterech metod pomiarowych w zależności od scenariusza zastosowania słabo sprzężonego światłowodu wielożyłowego, takiego jak badania i rozwój, produkcja oraz instalacja i konserwacja (I&M), mając pewność spójnej korelacji niezależnie od zastosowanej metody. Ponadto wyniki te pomogą w przyszłej standaryzacji słabo sprzężonych światłowodów wielożyłowych.

Anritsu będzie nadal przyczyniać się do praktycznego wdrażania technologii komunikacji optycznej nowej generacji, dostarczając rozwiązania testowe dla słabo sprzężonych światłowodów wielożyłowych.

Źródło: informacje prasowe