NXP PCF8883 – jednokanałowy przełącznik zbliżeniowy
Rys. 3. Przebieg próbkujący na aktywnej elektrodzie, gdy nie jest obciążona
Kondensator C6 wpływający na szybkość reakcji układu może mieć pojemność od 0 pF do 47 pF.
Dokładność ustawienia napięcia na wyprowadzeniu CPC powinna być nie gorsza niż ±0,5 V wartości optymalnej.
Rys. 4. Przebieg próbkujący na elektrodzie po zbliżeniu do niej palca
Na rysunku 3 przedstawiony został oscylogram zmierzony na elektrodzie gdy nie jest ona dotykana. Okres impulsów wynosi ok. 300 µs. Na rysunku 4 przedstawiony został oscylogram zmierzony na dotkniętej elektrodzie. Okres impulsów wynosi ok. 1300 µs.
Rys. 5. Wygląd zestawu testowego i rozmieszczenie jego elementów
Wygląd płytki drukowanej zestawu z opisem rozmieszczenia najważniejszych elementów pokazano na rysunku 5.
Ryszard Szymaniak, Aries RS





AI wspiera mapowanie kryzysowe i działania ratunkowe
Komponent wybrany dzisiaj może jutro stać się problemem w łańcuchu dostaw
Grzegorz Kamiński: „Surowce krytyczne” w półprzewodnikach 

![https://www.youtube.com/watch?v=QSnLO-KmBMY O wybranych projektach realizowanych w Laboratorium Zakładu Układów Mikrofalowych – ISE PW opowiadają: mgr inż. Michał Kalisiak, dr hab. inż. Arkadiusz Lewandowski, mgr inż. Andžej Šerlat oraz dr hab. inż. Krzysztof Czuba. Zapraszamy na firm [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/09/WEiTI-PW-czolowka.png)
![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)


