[TARGI] Sensor+ Test 2017

Systemy czujnikowe, pomiarowe i testowe stają się coraz bardziej istotne we współczesnym świecie systemów połączonych siecią. Z tego powodu tematem przewodnim tegorocznych targów Sensor+ Test są „Pomiary sieciowe w aplikacjach mobilnych”. Impreza odbędzie się w dniach 30 maja – 1 czerwca w Norymberdze.
Tematyka prezentacji obejmie mobilne systemy mierzące parametry stanu ludzkiego, jak i systemy przyrządów instalowane w pojazdach, urządzenia przenośne i technologie dla lotnictwa. Wiele z tych rozwiązań będzie można zobaczyć na żywo w „strefie akcji”. Będą tam prezentowane między innymi bezpieczne transfery danych między strefą a stoiskami wybranych wystawców.
Wielu wystawców na swych stoiskach przedstawi prezentacje związanie z tematem przewodnim. Planowane jest ponadto specjalne forum w hali 5, gdzie zwiedzający będą mogli uzyskać szczegółowe informacje o nowych produktach i osiągnięciach w obszaru sieciowych, mobilnych rozwiązań pomiarowych. W forum zapowiedziały udział następujące przedsiębiorstwa: Additive, EngineSens, Instytut Fraunhofera (IPMS), GEPA, Hottinger Baldwin, Messtechnik, Ondics, Schildknecht, Silicann Systems i Silicon Rada (stan na luty 2017).
Prezentacja w hali 5 podczas pierwszego dnia targów (30 maja) również będzie dotyczyć tematu przewodniego. Zwiedzający mogą oczekiwać interesujących prezentacji na temat bezpieczeństwa danych i sieci o zasięgu globalnym, rozproszonej i ciągłej akwizycji danych, przyjaznych dla użytkownika aplikacji dla urządzeń mobilnych, przetwarzania zadań w sieci Internetu Przedmiotów, czy też zarządzania danymi w kontekście czujników.
Terminarz prezentacji i inne użyteczne informacje są dostępne na stronie targów Sensor+ Test http://www.sensor-test.com.

Global Electronics Association opublikowało normę IPC-A-630A dotyczącą obudów elektronicznych
Microchip i Micron prezentują architekturę pamięci masowej PCIe® Gen 6 dla AI oraz centrów danych
Farnell podejmuje współpracę z Hailo w zakresie Edge AI 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)



