SigTest dla USB 3.1 typu C ułatwia testy zgodności i dokładniejszą analizę

Firma Tektronix dodała pełną obsługę narzędzia testowego SigTest do pakietu DPOJET, aby poprawić analizę marginesów transmisji w projektach wykorzystujących  USB wysokiej szybkości (3.1) typu C oraz skrócić czas ich realizacji.

Firma Tektronix, dostawca wysokiej klasy urządzeń pomiarowych, przedstawiła automatyczne rozwiązanie testowe przeznaczone do badania nadajników zgodnych ze standardem USB 3.1 typu C, przeznaczone dla USB w wersji Gen1 i Gen2, zapewniając pełną obsługę SigTest w pakiecie narzędzi do testów i analizy DPOJET. Dzięki temu projektanci będą mogli w krótszym czasie wprowadzić na rynek urządzenia o zwiększonych marginesach transmisji. Nowe rozwiązanie testowe zapewnia stuprocentowe pokrycie testów zgodności, jak również pełną obsługę nowego złącza typu C, koncentratorów i testów powiązanych kanałów.

Oficjalne narzędzie przeznaczone do testów zgodności elektrycznej USB 3.1 wysokiej szybkości o nazwie SigTest zapewnia jedynie ograniczony wgląd w przyczyny niepowodzenia i nie umożliwia dodatkowych analiz. Łącząc obsługę SigTest oraz DPOJET – zaawansowane narzędzie do wyznaczania wykresów oczkowych, analizy szumu, jitteru i analizy czasowej – Tektronix oferuje projektantom systemów USB znacznie bardziej funkcjonalne narzędzie w porównaniu do alternatyw, które zapewniają jedynie obsługę SigTest.

„Dzięki wprowadzeniu oprogramowania dla USB wysokiej szybkości umożliwiamy projektantom uzyskanie w krótkim czasie certyfikatów USB-IF dla ich produktów, przy użyciu oscyloskopów Tektronix.” – tłumaczy Brian Reich, dyrektor generalny ds. oscyloskopów wysokiej klasy w firmie Tektronix. – „W postaci zintegrowanego pakietu DPOJET dajemy naszym klientom zaawansowane narzędzie do testów i analizy, które pozwoli szybko znaleźć pierwotną przyczynę problemów i zapewnić lepsze marginesy transmisji w swych produktach.”

Rozszerzenie USBSSP-TX jest przeznaczone dla oscyloskopów MSP/DPO/70000DX/SX. Zapewnia ono pełną automatyzację testu uruchamianego jednym przyciskiem i daje pewność, że przyrządy testowe są skonfigurowane prawidłowo. Dzięki temu nawet osoby, które nie mają dużej wiedzy o specyfikacji USB, mogą przeprowadzić dokładne testy. Po zakończeniu testów generowany jest szczegółowy raport o wyniku testu i odchyleniach wyników od normy, jak również dane o marginesie pomiaru. W odróżnieniu od alternatywnych rozwiązań, inżynierowie mają możliwość wykonania dodatkowej analizy i testów po zakończeniu pomiarów.

W przypadku dokonywania dokładniejszej analizy użytkownik DPOJET samodzielnie określa zakres kontroli analizowanych parametrów, co przyspiesza rozwiązywanie problemów i upraszcza charakteryzację projektu. Przykładowo, wykresy oczkowe stopy błędów można przy pomocy pakietu DPOJET poddać dekompozycji na składową pionową i poziomą (jitter i szum), co pomaga inżynierom w charakteryzacji urządzeń.

Rozszerzenie Tektronix USBSSP-TX dla USB 3.1 Gen1 / Gen2 z obsługą SigTest w wersji 4.0.23 jest już dostępne.

Więcej informacji o nowych projektach firmy Tektronix można znaleźć na blogu Bandwich Bunter, a najnowsze wiadomości pojawiają się na Twitterze i Facebooku.

Jedynym autoryzowanym dystrybutorem firmy Tektronix w Polsce jest firma Tespol Sp. z o.o., ul. Klecińska 125, 54-413 Wrocław, tel.: 71 783 63 60, 22 675 75 42, www.tespol.com.pl.