Mikrokontroler.pl – portal dla elektroników » Pomiary oscyloskopem MDO4104

08.03.2017

Pomiary oscyloskopem MDO4104 – dwie dziedziny, sześć przyrządów

Tektronix od kilku lat produkuje oscyloskopy, za pomocą których możliwe jest wykonywanie pomiarów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Użytkownicy mają do wyboru szeroką gamę modeli, które mogą być wybierane i konfigurowane według indywidualnych potrzeb. W artykule opisano rodzinę MDO4000 na przykładzie najsilniejszego jej modelu – MDO4104C.

Oscyloskopy MDO4000 są naturalnym rozwinięciem serii MDO3000. Pod względem funkcjonalnym obie rodziny są do siebie bardzo podobne, główna różnica dotyczy parametrów elektrycznych. W tab. 1 zestawiono parametry oscyloskopu MDO4104C.

Tab. 1. Najważniejsze parametry techniczne oscyloskopu MDO4104C

Pasmo analogowe		1 GHz
Maksymalna szybkość próbkowania		5 GSa/s
Liczba kanałów analogowych		4
Długość rekordu w każdym kanale		20 M
Sprzętowe ograniczenie pasma		20 MHz lub 250 MHz
Impedancja wejściowa		1 MW ±1% \|\| 13 pF, 50 W ±1%
Rozdzielczość pionowa		8 bitów (11 bitów w trybie Hi Res)
Maksymalne napięcie wejściowe		300 V_RMS CAT II z pikami <±20 V
Czas narastania		350 ps
Tryby wyzwalania		Auto, Normal, Single
Tryby akwizycji		Sample, Peak Detect, Averaging, Envelope, Hi Res, Roll, FastAcq
Liczba kanałów cyfrowych		16
Pomiary automatyczne (30)		Period, Frequency, Delay, Rise Time, Fall Time, Positive Duty Cycle, Negative Duty Cycle, Positive Pulse Width, Negative Pulse Width, Burst Width, Phase, Positive Overshoot, Negative Overshoot, Total Overshoot, Peak to Peak, Amplitude, High, Low, Max, Min, Mean, Cycle Mean, RMS, Cycle, RMS, Positive Pulse Count, Negative Pulse Count, Rising Edge Count, Falling Edge Count, Area and Cycle Area.
Statystyki pomiarów		Mean, Min, Max, Standard Deviation
Obliczenia matematyczne		Dodawanie, odejmowanie, mnożnie, dzielenie, całkowanie, różniczkowanie, FFT
Zaawansowane obliczenia matematyczne		FFT, Intg, Diff, Log, Exp, Sqrt, Abs, Sine, Cosine, Tangent, Rad, Deg); Period, Freq, Delay, Rise, Fall, PosWidth, NegWidth, BurstWidth, Phase, PosDutyCycle, NegDutyCycle, PosOverShoot, NegOverShoot, TotalOverShoot, PeakPeak, Amplitude, RMS, CycleRMS, High, Low, Max, Min, Mean, CycleMean, Area, CycleArea; Wykres trendu
Analiza zaawansowana		Moc, Limity/Maski, Video, analiza sygnałów wektorowych,
Zakres analizy widmowej		9 kHz…3 GHz (opcja) 9 kHz…6 GHz (opcja)
Generator funkcyjny/arbitralny		13 przebiegów predefiniowanych + przebiegi arbitralne użytkownika generowane w zakresie częstotliwości do 50 MHz
Liczba kanałów generatora		1
Standardy sygnałów cyfrowych analizatora stanów logicznych		TTL, CMOS, ECL, PECL, poziomy definiowane przez użytkownika
Szybkość próbkowania analizatora stanów logicznych (Main)		500 MSa/s (rozdzielczość 2 ns)
Maksymalna długość rekordu analizatora stanów logicznych (Main)		20 M
Szybkość próbkowania analizatora stanów logicznych (MagniVu)		16,5 GSa/s (rozdzielczość 60,6 ps)
Maksymalna długość rekordu analizatora stanów logicznych dla „MagniVu” (Main)		10 k centralnie do wyzwolenia
Minimalna wykrywalna szerokość impulsu		1 ns
Analizowane protokoły		I²C, SPI, RS232/422/485/UART, USB2.0, Ethernet, CAN, CAN FD, LIN, FlexRay, MIL-STD-1553, Audio
Wirtualny multimetr cyfrowy	Źródło sygnału	Kanały: 1, 2, 3, 4
	Pomiary	AC RMS, DC, AC+DC RMS, częstotliwość
	Dokładność napięciowa	±(1,5% \|odczyt – offset – pozycja\|) + (0,5% \|(offset – pozycja)\|) + (0,1 * V/dz))
	Rozdzielczość	ACV, DCV: 4 cyfry Częstotliwość: 5 cyfr
	Dokładność pomiaru częstotliwości	±(10 mHz/Hz+1 odczytu)
	Szybkość pomiaru	100 razy na sekundę
Standardowe sondy pomiarowe		500 MHz, 3,9 pF lub 1 GHz, 3,9 pF
Wyświetlacz		LCD TFT 10,4 cala (264 mm)
Rozdzielczość wyświetlacza		1024×768 (XGA)
Interpolacja		Sin(x)/x
Szybkość przechwytywania ramek		>340000 wfms/s w trybie FastAcq
Napięcie zasilające		100…240 V ±10% 50…60 Hz ±10% lub 400 Hz ±13%
Moc zasilania		250 W max.
Wymiary		229×439×147 mm
Waga		5 kg
UWAGA: niektóre parametry zależą od opcji zainstalowanych w oscyloskopie

Autor: Jarosław Doliński

Jarosław Doliński jest absolwentem Wydziału Elektroniki na Politechnice Warszawskiej. Pracował w Przemysłowymi Instytucie Telekomunikacji oraz Instytucie Fizyki Plazmy i Laserowej Mikrosyntezy, gdzie zajmował się konstruowaniem urządzeń transmisji danych. Współpracował z Zakładem Urządzeń Teatralnych m.in. w zakresie konstrukcji interkomów teatralnych i urządzeń dla inspicjentów. Brał także udział w pracach projektowych rejestratorów urządzeń wiertniczych i elektroniki montowanej na żurawiach mobilnych. Obecnie prowadzi firmę zajmująca się konstruowaniem i produkcją urządzeń elektronicznych dla rehabilitacji i wspomagania treningu sportowego. Jest autorem czterech książek poświęconych elektronice i mikrokontrolerom, współpracuje ponadto z miesięcznikami „Elektronika Praktyczna”, „Elektronik” oraz „Świat Radio”.