[WEBINARIUM] Testowanie szybkiego interfejsu PCI Express Gen 3
Rohde & Schwarz zaprasza na webinarium poświęcone testowaniu i debugowaniu szybkiego interfejsu cyfrowego PCI Express Gen 3. Webinarium odbędzie się 12 października 2021 roku w trzech sesjach – o 8.00, 14.00, a także 20.00 czasu polskiego.
Webinarium jest przeznaczone dla inżynierów pracujących nad projektowaniem i testowaniem szybkich interfejsów cyfrowych. W szczególności będzie poświęcone interfejsowi PCIe Gen 3. Po krótkim omówieniu technologii PCIe, eksperci R&S omówią sposoby testowania zgodności ze standardami, wyzwalacze protokołów, dekodowanie, a także integralność sygnałową przy stosowaniu protokołu. Omówiona zostanie także weryfikacja interoperacyjności systemu. Zaprezentowana zostanie problematyka dekodowania, wyzwalania obsługi protokołu, testowania za pomocą wykresu oczkowego, deembeddingu, kontroli impedancji, a także analizy jittera. To wszystko pozwoli na identyfikację problemów, które mogą powodować problemy przy certyfikacji. Zademonstowane zostaną również praktyczne przykłady testów PCIe.
Więcej informacji oraz rejestracja na stronie Rohde & Schwarz
Unisystem i SoMLabs zacieśniają współpracę wzmacniając europejski rynek elektroniki 
Creotech Quantum zamierza skomercjalizować system kwantowej dystrybucji klucza w 2026 roku 
Procesory AMD Ryzen™ Embedded V3000 sercem przełączników Cisco N9300 oraz routerów z serii 8000 do obsługi obciążeń związanych z AI 
