Pomiary oscyloskopem MDO4104 – dwie dziedziny, sześć przyrządów

Tek_MDO4104C_fotatyt

Tektronix od kilku lat produkuje oscyloskopy, za pomocą których możliwe jest wykonywanie pomiarów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Użytkownicy mają do wyboru szeroką gamę modeli, które mogą być wybierane i konfigurowane według indywidualnych potrzeb. W artykule opisano rodzinę MDO4000 na przykładzie najsilniejszego jej modelu – MDO4104C.

 

Oscyloskopy MDO4000 są naturalnym rozwinięciem serii MDO3000. Pod względem funkcjonalnym obie rodziny są do siebie bardzo podobne, główna różnica dotyczy parametrów elektrycznych. W tab. 1 zestawiono parametry oscyloskopu MDO4104C.

Tab. 1. Najważniejsze parametry techniczne oscyloskopu MDO4104C

Pasmo analogowe 1 GHz
Maksymalna szybkość próbkowania 5 GSa/s
Liczba kanałów analogowych 4
Długość rekordu w każdym kanale 20 M
Sprzętowe ograniczenie pasma 20 MHz lub 250 MHz
Impedancja wejściowa 1 MW ±1% || 13 pF, 50 W ±1%
Rozdzielczość pionowa 8 bitów

(11 bitów w trybie Hi Res)

Maksymalne napięcie wejściowe 300 VRMS CAT II z pikami <±20 V
Czas narastania 350 ps
Tryby wyzwalania Auto, Normal, Single
Tryby akwizycji Sample, Peak Detect, Averaging, Envelope, Hi Res, Roll, FastAcq
Liczba kanałów cyfrowych 16
Pomiary automatyczne (30) Period, Frequency, Delay, Rise Time, Fall Time, Positive Duty Cycle, Negative Duty Cycle, Positive Pulse Width, Negative Pulse Width, Burst Width, Phase, Positive Overshoot, Negative Overshoot, Total Overshoot, Peak to Peak, Amplitude, High, Low, Max, Min, Mean, Cycle Mean, RMS, Cycle, RMS, Positive Pulse Count, Negative Pulse Count, Rising Edge Count, Falling Edge Count, Area and Cycle Area.
Statystyki pomiarów Mean, Min, Max, Standard Deviation
Obliczenia matematyczne Dodawanie, odejmowanie, mnożnie, dzielenie, całkowanie, różniczkowanie, FFT
Zaawansowane obliczenia matematyczne FFT, Intg, Diff, Log, Exp, Sqrt, Abs, Sine, Cosine, Tangent, Rad, Deg);

Period, Freq, Delay, Rise, Fall, PosWidth, NegWidth, BurstWidth, Phase, PosDutyCycle, NegDutyCycle, PosOverShoot, NegOverShoot, TotalOverShoot, PeakPeak, Amplitude, RMS, CycleRMS, High, Low, Max, Min, Mean, CycleMean, Area, CycleArea;

Wykres trendu

Analiza zaawansowana Moc, Limity/Maski, Video, analiza sygnałów wektorowych,
Zakres analizy widmowej 9 kHz…3 GHz (opcja)

9 kHz…6 GHz (opcja)

Generator funkcyjny/arbitralny 13 przebiegów predefiniowanych + przebiegi arbitralne użytkownika generowane w zakresie częstotliwości do 50 MHz
Liczba kanałów generatora 1
Standardy sygnałów cyfrowych analizatora stanów logicznych TTL, CMOS, ECL, PECL, poziomy definiowane przez użytkownika
Szybkość próbkowania analizatora stanów logicznych (Main) 500 MSa/s (rozdzielczość 2 ns)
Maksymalna długość rekordu analizatora stanów logicznych (Main) 20 M
Szybkość próbkowania analizatora stanów logicznych (MagniVu) 16,5 GSa/s (rozdzielczość 60,6 ps)
Maksymalna długość rekordu analizatora stanów logicznych dla „MagniVu” (Main) 10 k centralnie do wyzwolenia
Minimalna wykrywalna szerokość impulsu 1 ns
Analizowane protokoły I2C, SPI, RS232/422/485/UART, USB2.0, Ethernet, CAN, CAN FD, LIN, FlexRay, MIL-STD-1553, Audio
Wirtualny multimetr cyfrowy Źródło sygnału Kanały: 1, 2, 3, 4
Pomiary AC RMS, DC, AC+DC RMS, częstotliwość
Dokładność napięciowa ±(1,5% |odczyt – offset – pozycja|) + (0,5% |(offset – pozycja)|) + (0,1 * V/dz))
Rozdzielczość ACV, DCV: 4 cyfry

Częstotliwość: 5 cyfr

Dokładność pomiaru częstotliwości ±(10 mHz/Hz+1 odczytu)
Szybkość pomiaru 100 razy na sekundę
Standardowe sondy pomiarowe 500 MHz, 3,9 pF lub 1 GHz, 3,9 pF
Wyświetlacz LCD TFT 10,4 cala (264 mm)
Rozdzielczość wyświetlacza 1024×768 (XGA)
Interpolacja Sin(x)/x
Szybkość przechwytywania ramek >340000 wfms/s w trybie FastAcq
Napięcie zasilające 100…240 V ±10%

50…60 Hz ±10% lub 400 Hz ±13%

Moc zasilania 250 W max.
Wymiary 229×439×147 mm
Waga 5 kg
   UWAGA: niektóre parametry zależą od opcji zainstalowanych w oscyloskopie

O autorze