Atmel AT42QT1011 – bezstykowy „mikroswitch”
Układ AT42QT1011 jest produkowanym przez firmę Atmel zintegrowanym kontrolerem „przycisku” zbliżeniowego (bezstykowego), charakteryzującym się prostotą aplikacji, dużą pewnością działania, brakiem konieczności kalibrowania, szerokim zakresem napięć zasilających i niewielkim poborem prądu.
| Artykuł przeglądowy na temat bezstykowych kontrolerów klawiatur firmy Atmel jest dostępny tu. |
Prezentowany w artykule układ można stosować jako detektor zbliżeniowy lub kontroler obsługujący 1-„przyciskową” klawiaturę bezstykową z wyjściem cyfrowym. Zastosowany przez producenta algorytm detekcji zmiany pojemności (Spread Spectrum Charge Transfer) jest wspomagany algorytmami DSP, dzięki którym kontroler nie wymaga kalibracji podczas pracy, radzi sobie także z wieloma zakłóceniami, jak na przykład zalaniem czujnika zbliżeniowego.
Podstawowe cechy układu AT42QT1011:
|
Schemat elektryczny projektu referencyjnego pokazano na rysunku 1. Jest to standardowy schemat aplikacyjny układu AT42QT1011, jedynie w celu ułatwienia sprawdzenia możliwości tego układu do wejścia S/M (Sync/Mode) dołączono zworkę pozwalającą ustawić na nim stany: niski lub wysoki, wejście można pozostawić niepodłączone (opis trybu pracy układu w każdym z tych przypadków zestawiono w tabeli 1). Najszybszą reakcję układu AT42QT1011 na zbliżenie palca uzyskuje się w trybie Fast, ale jest to okupione poborem prądu od 211 µA przy zasilaniu 1,8 V do 730 µA przy zasilaniu 5 V. W trybie Low Power pobór prądu jest co najmniej 10-krotnie mniejszy.
Rys. 1. Schemat elektryczny zestawu testowego
Tab. 1. Zestawienie trybów pracy układu AT42QT1011 w prezentowanym zestawie
| Stan na wejściu S/M | Zwarte styki JP2 | Oznaczenie pozycji JP1 na płytce | Tryb pracy |
| 0 | 1-2 | F | Fast – stan czujnika jest monitorowany z maksymalną częstotliwością |
| 1 | 2-3 | LP | Low Power – stan czujnika jest monitorowany w odstępach 80 ms |
| nie podłączone | jumper zdjęty | – | Sync – stan czujnika jest monitorowany z częstotliwością wyznaczaną przez sygnał zewnętrzny podawany na wejście M/S |
Na kolejnych rysunkach pokazano przebiegi na polu czujnikowym JP1 generowane przez układu AT42QT1011:
- na rysunku 2: szczegółowy wygląd paczek przebiegów próbkujących w trybie Fast i Low Power,
Rys. 2. Paczki impulsów próbkujących w trybach Fast i LowPower
- na rysunku 3: grupy paczek przebiegów próbkujących (każda składa się z przebiegów pokazanych na rysunku 2) w trybie Fast,
Rys. 3. Grupy paczek przebiegów próbkujących w trybie Fast






Od wzmacniacza nieodwracającego do integratora i wzmacniacza ładunkowego, czyli historia z zaskakującą pointą jak w dobrym kryminale
Green czy smart? Jak decyzje ESG zaczynają optymalizować procesy produkcyjne
Firma Semicon ma w ofercie narzędzia do obróbki przewodów 

![https://www.youtube.com/watch?v=BgxJVTwYJ-s Zapraszamy do obejrzenia filmu i wysłuchania krótkich wypowiedzi prelegentów Hardware Forum 2026 i organizatorów majowej konferencji dla inżynierów z branży elektronicznej: Konrad Bruliński z Lemontech, prof. Krzysztof Kulpa z Politechniki Warszawskiej, Zbigniew Huber z FLC, Ewa Załupska z firmy KROK, Jerzy Kozieł z MPTECH, Grzegorz Potyralski z VIGO Photonics, dr Krzysztof Czuba z Politechniki Warszawskiej, Anna Beata Kalisz Hedegaard z Quantum Security Defence, Adrian Cichosz z Elhurt Dystrybucja Anna Kamińska z Creotech Quantum, oraz Łukasz Jaeszke i Adam Jaeszke z TEK.day [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/05/tytulowe-film-1.png)



