LinkedIn YouTube Facebook
Szukaj
Szukaj

Newsletter

Proszę czekać.

Dziękujemy za zgłoszenie!

Wstecz
Sprzęt pomiarowy

14.04.2022

Nowe produkty Teledyne LeCroy do pomiarów elementów GaN i SiC

Teledyne LeCroy wprowadził do oferty nową sondę oscyloskopową 1 GHz izolowaną optycznie, a także oprogramowanie badawcze Power-Device. W połączeniu z oscyloskopami wysokiej klasy HDO pozwalają na precyzyjny pomiar charakterystyki układów opartych o Azotek galu (GaN) oraz Węglik krzemu (SiC).

Nowa sonda Teledyne LeCroy DL-ISO zapewnia dokładne i pewne pomiary układów półprzewodnikowych GaN i SiC. Dokładność odtworzenia sygnału wynosi ok. 1,5%. Pasmo 1 GHz pozwala mierzyć czas narastania w układach GaN na poziomie 1 ns. Oscyloskopy HDO oferują próbkowanie 20 GS/s i rozdzielczość 12 bitów. Oprogramowanie Power-Device pozwala uprościć proces testowania układów GaN i SiC.

Więcej informacji na stronie http://teledynelecroy.com/powerprobes

Autor: Teledyne LeCroy
Tagi: GaN, oscyloskop, SiC, sonda, Teledyne LeCroy

Przeczytaj również:

Precyzyjne pozycjonowanie i inteligentne wykrywanie obecności w układzie AIROC™ UWB TSL100 Infineon
10 lat po referendum brexitowym: lekcje dla Polski i Unii Europejskiej – wnioski z konferencji
STMicroelectronics wprowadza ST54M z kryptografią postkwantową do usług sieciowych nowej generacji