14.04.2022
Nowe produkty Teledyne LeCroy do pomiarów elementów GaN i SiC
Teledyne LeCroy wprowadził do oferty nową sondę oscyloskopową 1 GHz izolowaną optycznie, a także oprogramowanie badawcze Power-Device. W połączeniu z oscyloskopami wysokiej klasy HDO pozwalają na precyzyjny pomiar charakterystyki układów opartych o Azotek galu (GaN) oraz Węglik krzemu (SiC).
Nowa sonda Teledyne LeCroy DL-ISO zapewnia dokładne i pewne pomiary układów półprzewodnikowych GaN i SiC. Dokładność odtworzenia sygnału wynosi ok. 1,5%. Pasmo 1 GHz pozwala mierzyć czas narastania w układach GaN na poziomie 1 ns. Oscyloskopy HDO oferują próbkowanie 20 GS/s i rozdzielczość 12 bitów. Oprogramowanie Power-Device pozwala uprościć proces testowania układów GaN i SiC.
Więcej informacji na stronie http://teledynelecroy.com/powerprobes
Intel inwestuje 5 mld EUR w rozbudowę produkcji w Europie 
ICEYE zakłada spółkę w Niemczech 
Infineon dostarcza technologię SiC firmie ADVANTICS 
![O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png "https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo")
