Anritsu weźmie udział w corocznej Europejskiej Wystawie Mikrofalowej, która jest zdecydowanie największą wystawą RF i mikrofalową w Europie, odbywającą się w połączeniu z konferencjami (EuMC, EuMIC, EuRAD). Będzie ona zorganizowana w Paryżu w dniach 24-26 września. Najważniejsze wydarzenia na stoisku 207F będą obejmować najnowocześniejsze rozwiązania Anritsu w zakresie wektorowego analizatora sieci (VNA) i zaawansowanego generatora sygnałów RF/Mikrofalowych Rubidium™, a także szereg innych innowacji dostosowanych do różnych potrzeb aplikacji.

Źródło – Anritsu

Najszersze na świecie pokrycie częstotliwości VNA z najwyższą elastycznością

Opierając się na 130-letnim doświadczeniu w projektowaniu, Anritsu kontynuuje rozszerzanie zasięgu szerokopasmowych VNA, przełamując barierę mmWave dzięki serii VectorStar ME7838x. Inżynierowie zajmujący się częstotliwościami radiowymi lub mikrofalowymi mogą teraz analizować urządzenia, począwszy od tranzystorów w środowisku on-wafer, skończywszy na systemach komunikacyjnych. VectorStar VNA jest wysoce elastycznym i konfigurowalnym analizatorem wektorowym na pasmo 70 GHz skonfigurowanym do różnych wyzwań testowych. Należą do nich m.in. testy optoelektroniczne dla urządzeń SiPh i konfiguracji szerokopasmowych/mmWave.

Analizator VectorStar skonfigurowany jako ME7838G i ME7838G4 zapewnia 2- i 4-portowe wysokowydajne pomiary od 70 kHz do 220 GHz, oferując doskonałą kalibrację i stabilność pomiarów 0,1 dB przez 24 godziny. Kompaktowe moduły mmWave MA25400A usprawniają pomiary szerokopasmowe do 220 GHz przy użyciu opatentowanej technologii nieliniowej linii transmisyjnej (NLTL) w kompaktowej obudowie. Pojedynczy zakres pomiarowy ma kluczowe znaczenie dla charakteryzacji urządzeń na waflu.

Łatwe i dokładne pomiary materiałów dzięki technologii Non-Linear-Transmission-Line™ VNA-on-chip

Ocena właściwości materiałów jest niezbędna w zastosowaniach takich jak propagacja bezprzewodowa, projektowanie anten, teledetekcja, minimalizacja zakłóceń EM i diagnostyka medyczna. Unikatowe rozwiązanie oparte na VNA firmy Anritsu, w którym jest zastosowana technologia Non-Linear-Transmission-Line™ VNA-on-chip, zaspokaja te potrzeby.

1-portowy ShockLine VNA MS46131A pokrywa pasmo do 43,5 GHz i łatwo integruje się z urządzeniami do testów materiałowych. Pozwala on sprostać wyzwaniom związanym z testowaniem materiałów w środowiskach laboratoryjnych, produkcyjnych i terenowych, mierząc przenikalność, przewodność i straty loss tangents w różnych stanach skupienia materii.

W demonstracji, VNA z otwartą sondą koncentryczną SPEAG AG, przemiatał sygnały od kilku MHz do 43,5 GHz, oferując szczegółową charakterystykę materiałową próbek, takich jak ciała stałe, ciecze i grafen. MS46131A VNA testuje również pasywne komponenty RF, kable, anteny, czujniki i płytki PCB.

Pełnowymiarowe pomiary s-parametrów za pomocą rozproszonego VNA PhaseLyncTM

Rewolucyjne 2-portowe rozwiązanie VNA System ShockLine™ ME786xA to pierwsze rozproszone, w pełni odwracalne 2-portowe rozwiązanie VNA, które gwarantuje wydajność od 1 MHz do 43,5 GHz przy użyciu komponentów Extended-K™ firmy Anritsu. Opierając się na technologii PhaseLync™, opcja 12 łączy dwa mierniki ShockLine MS46131A w pełni odwracalny 2-portowy VNA, umożliwiając umieszczenie portów VNA w odległości do 100 metrów od siebie.

Rozwiązanie to jest idealne do pomiarów w bliskim i dalekim polu. Znacznie upraszcza pomiary s-parametrów na duże odległości eliminując potrzebę stosowania konwencjonalnych stacjonarnych VNA z długimi przebiegami kabli i utrzymując kalibracyjną płaszczyznę odniesienia jak najbliżej testowanego urządzenia (DUT). Takie podejście eliminuje straty przed sprzęgaczem kierunkowym VNA i zwiększa stabilność pomiaru. W typowych zastosowaniach pomiarowych anten, system ME786xA, w porównaniu z tradycyjnymi koncepcjami dystrybucji IF-LO, oferuje wyższy zakres dynamiki, szybsze pomiary i niższe koszty testowania.

Ocena wydajności RIS we współpracy z TMYTEK

W ewoluującym krajobrazie sieci 5G i zbliżających się sieci 6G, testy terenowe muszą traktować priorytetowo wydajność i efektywność energetyczną. Wektorowy analizator sieci (VNA) firmy Anritsu i dynamicznie rekonfigurowalna inteligentna powierzchnia (Reconfigurable Intelligent Surfaces – RIS) XRIfle firmy TMYTEK łączą się w celu usprawnienia testów w terenie poprzez inteligentne zarządzanie ścieżkami sygnału, zmniejszenie zużycia energii i zapewnienie precyzyjnych pomiarów w celu uzyskania optymalnej wydajności sieci. XRifle Dynamic RIS firmy TMYTEK minimalizuje zakłócenia i poprawia jakość sygnału, natomiast opatentowane podejście PhaseLyncTM firmy Anritsu (ME786xA) umożliwia szczegółowe zdejmowanie charakterystyki ścieżki radiowej zgodnie z absolutnymi pomiarami fazy. Użytkownik zyskuje tym samym wsparcie bardziej niezawodnych operacji sieciowych.

Dodatkowo rozwiązanie zwiększa bezpieczeństwo poprzez tworzenie chronionych stref komunikacji, co ma kluczowe znaczenie dla wrażliwych sektorów. Przyspieszając wdrażanie dzięki wglądowi w dane w czasie rzeczywistym i zmniejszając koszty dzięki efektywności energetycznej, technologia ta zabezpiecza również sieci na nadchodzące przejście na 6G.

Więcej informacji: informacje prasowe