Pomiary charakterystyk urządzeń na smartfonie – aplikacja Tektronix
Firma Tektronix zaprezentowała aplikację Keithley IVy dla urządzeń iPhone, iPad oraz urządzeń mobilnych z systemem operacyjnym Android, która umożliwia wygodne i sprawne wykonywanie pomiarów z wykorzystaniem przyrządów 2600B SourceMeter (SMU). Jest ona dostępna do pobrania w serwisie App Store. Zaktualizowana wersja dla urządzeń z systemem Android, obsługująca przyrządy bezprzewodowe, jest również dostępna w sklepie Google Play.
Aplikacja IVy pozwala szybko i bezproblemowo wykonać pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych. Ułatwia także diagnozowanie urządzenia oraz współpracę z innymi członkami zespołu. Używając aplikacji Keithley IVy inżynierowie mogą korzystać z interaktywnej wizualizacji wyników pomiarów oraz z możliwości ich udostępniania. Skutkuje to oszczędnością czasu i zwiększeniem produktywności całego zespołu.
IVy wykorzystuje w pełni możliwości interfejsów urządzeń Apple i Android, umożliwiając jednoczesną kontrolę poziomów wejściowych, monitorowanych wartości i wyników testu. Pozwala to na łatwą analizę graficzną charakterystyk I-V, stabilności urządzenia, czasu odpowiedzi i dryftu układów elektronicznych – poprzez proste powiększanie i przewijanie otrzymywanych charakterystyk dotykiem. Dane oraz wykresy można przekazywać współpracownikom wykorzystując do tego celu typowe rozwiązania takie jak: e-mail, wiadomości i serwery wymiany plików.
Darmowa aplikacja jest kompatybilna z przyrządami Keithley z serii 2600B SourceMeter z oprogramowaniem producenta w wersji 3.1.0 lub wyższej.
Jedynym autoryzowanym dystrybutorem firmy Tektronix w Polsce jest firma Tespol Sp. z o.o., ul. Klecińska 125, 54-413 Wrocław, tel.: 71 783 63 60, 22 675 75 42, www.tespol.com.pl.


PPTF i ARP S.A. organizują program staży w zakresie mikroelektroniki
Ustawa o systemach AI – bezpieczny rozwój sztucznej inteligencji w Polsce
Energa Operator z dofinansowaniem 338 mln PLN na stacje ładowania dla ciężarówek 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)



