Automatyzacja pomiarów C-V dla wysokich i niskich częstotliwości oraz obliczenia gęstości pułapek granicznych (DIT) kondensatorów MOS przy użyciu analizatora parametrów 4200A-SCS

Pomiary pojemności i napięcia (C-V) są powszechnie stosowane do badania jakości struktury bramka-tlenek. Pomiary te są wykonywane na urządzeniu z dwoma elektrodami zwanym kondensatorem MOS, który jest w zasadzie tranzystorem MOSFET bez źródła i drenu. Dane […]

[WEBINARIUM] Wybrane zagadnienia pomiarowe w nowoczesnej inżynierii materiałowej – charakteryzacja prądowo-napięciowa (I-V) nanostruktur, materiałów dielektrycznych i półprzewodnikowych

Tespol oraz Tektronix zapraszają na webinarium, poświęcone tematyce zagadnień pomiarowych w nowoczesnej inżynierii materiałowej. Prezentacja odbędzie się w dwóch sesjach i w dwóch językach: polskim i angielskim. Podczas webinarium zaprezentowane zostanie sposób użycia precyzyjnych przyrządów […]

10 najciekawszych przyrządów testowo-pomiarowych – podsumowanie na koniec 2016 roku

EETimes opublikował opracowaną przez Martina Rowe listę 10 najbardziej innowacyjnych przyrządów pomiarowych. Znalazły się na niej następujące urządzenia: Rozszerzenie HSSLTA do testów inicjacji połączenia dla oscyloskopu Tektronix 70 GHz DPO70000SX pozwalający na automatyzację pomiarów korekcji […]

SMU Keithley 2461

Podczas badania urządzeń, podzespołów i elementów elektronicznych często zachodzi konieczność stosowania sygnałów testowych o dużej mocy i złożonym kształcie. Nie mniej ważny jest jednoczesny bardzo dokładny pomiar takich wielkości elektrycznych jak napięcie, prąd, moc oraz […]