[WEBINARIUM] Wybrane zagadnienia pomiarowe w nowoczesnej inżynierii materiałowej – charakteryzacja prądowo-napięciowa (I-V) nanostruktur, materiałów dielektrycznych i półprzewodnikowych

Tespol oraz Tektronix zapraszają na webinarium, poświęcone tematyce zagadnień pomiarowych w nowoczesnej inżynierii materiałowej. Prezentacja odbędzie się w dwóch sesjach i w dwóch językach: polskim i angielskim.

Podczas webinarium zaprezentowane zostanie sposób użycia precyzyjnych przyrządów pomiarowych Keithley w pomiarach kluczowych parametrów rozmaitych materiałów. Takimi parametrami mogą być np. rezystywność izolatorów, charakterystyka elektryczna nanorurek, koncentracja i ruchliwość elektronów w półprzewodniku, a także profil domieszkowania w złączu p-n.

Agenda:

1. Wprowadzenie
2. Współczesne wyzwania pomiarowe w dziedzinie inżynierii materiałowej.
3. Pomiary małych rezystancji w trybie „delta” z wykorzystaniem systemu Keithley 2182A/6221.
4. Wykorzystanie analizatora parametrycznego Keithley 4200A-SCS do pomiarów w dziedzinie nanotechnologii i inżynierii kwantowej.
5. Wykorzystanie elektrometrów i wysokonapięciowych SMU do pomiarów dużych rezystancji.
6. Precyzyjne pomiary parametrów materiałów izolacyjnych: rezystancji izolacji, prądu upływu, napięcia przebicia.
7. Testowanie przyrządów półprzewodnikowych mocy z wykorzystaniem specjalizowanego systemu Keithley PCT Parametric Curve Tracer.
8. Pomiary parametrów materiałów i przyrządów optoelektronicznych z wykorzystaniem źródeł mierzących oraz analizatorów parametrycznych.
9. Podsumowanie i dyskusja

Webinarium odbędzie się 3 grudnia. Sesja w języku angielskim rozpocznie się o godzinie 10.00, natomiast sesja w języku polskim – o 12.00. Obie prezentacje będą trwały po 60 minut. Udział jest bezpłatny.

Rejestracji można dokonać pod tym linkiem