Tespol oraz Tektronix zapraszają na webinarium, poświęcone tematyce zagadnień pomiarowych w nowoczesnej inżynierii materiałowej. Prezentacja odbędzie się w dwóch sesjach i w dwóch językach: polskim i angielskim.
Podczas webinarium zaprezentowane zostanie sposób użycia precyzyjnych przyrządów pomiarowych Keithley w pomiarach kluczowych parametrów rozmaitych materiałów. Takimi parametrami mogą być np. rezystywność izolatorów, charakterystyka elektryczna nanorurek, koncentracja i ruchliwość elektronów w półprzewodniku, a także profil domieszkowania w złączu p-n.
Agenda:
- Wprowadzenie
- Współczesne wyzwania pomiarowe w dziedzinie inżynierii materiałowej.
- Pomiary małych rezystancji w trybie „delta” z wykorzystaniem systemu Keithley 2182A/6221.
- Wykorzystanie analizatora parametrycznego Keithley 4200A-SCS do pomiarów w dziedzinie nanotechnologii i inżynierii kwantowej.
- Wykorzystanie elektrometrów i wysokonapięciowych SMU do pomiarów dużych rezystancji.
- Precyzyjne pomiary parametrów materiałów izolacyjnych: rezystancji izolacji, prądu upływu, napięcia przebicia.
- Testowanie przyrządów półprzewodnikowych mocy z wykorzystaniem specjalizowanego systemu Keithley PCT Parametric Curve Tracer.
- Pomiary parametrów materiałów i przyrządów optoelektronicznych z wykorzystaniem źródeł mierzących oraz analizatorów parametrycznych.
- Podsumowanie i dyskusja
Webinarium odbędzie się 3 grudnia. Sesja w języku angielskim rozpocznie się o godzinie 10.00, natomiast sesja w języku polskim – o 12.00. Obie prezentacje będą trwały po 60 minut. Udział jest bezpłatny.
