Nowy, lekki i kompaktowy wektorowy analizator obwodów R&S ZNLE
Nowy wektorowy analizator obwodów (VNA) R&S ZNLE firmy Rohde & Schwarz zapewnia wysokie parametry pomiaru częstotliwości radiowych i zapewnia szybszą pracę, zachowując przy tym ekonomiczną cenę. Jest to łatwy w użyciu, najlżejszy i najbardziej kompaktowy VNA w tej klasie przyrządów. Dzięki niemu pomiar parametrów macierzy S staje się bardzo prosty.
Nowy wektorowy analizator obwodów R&S ZNLE stanowi odpowiedź na potrzeby klientów, którzy muszą przeprowadzać pomiary na częstotliwościach radiowych w celu charakteryzacji takich elementów, jak anteny, tłumiki, filtry i płytki PCB. Nowy, samodzielny przyrząd waży tylko 6 kg, a jego podstawa ma wymiary 408 x 235 mm, co pozwala oszczędzić do 2/3 miejsca w porównaniu do konkurencyjnych VNA.
Jest to dwuportowy wektorowy analizator obwodów, który nie tylko zapewnia oszczędność miejsca, ale też oferuje szybkie i dokładne pomiary macierzy S dzięki łatwemu w użyciu kreatorowi. Przyrząd R&S ZNLE wykonuje dwukierunkowe pomiary parametrów S11, S21, S12 oraz S22. Dostępny jest również opcjonalny interfejs GPIB umożliwiający zdalne sterowanie analizatorem. Przyrząd jest dostępny w dwóch wersjach z pasmem od 1 MHz do 3 GHZ (R&S ZNLE3) lub do 6 GHz (R&S ZNLE6).
Analizator R&S ZNLE zapewnia wysokie parametry RF i szeroki zakres dynamiczny – typowo 120 dB. Dostępny jest zakres szerokości pasma pomiaru od 1 Hz do 500 kHz. Przykładowy czas pomiaru wynosi natomiast 9,6 ms dla 201 punktów w pasmie pomiaru 100 kHz na częstotliwości 200 MHz, przy dwuportowej kalibracji metodą TOSM / SOLT. Przyrząd R&S ZNLE zapewnia stabilne i powtarzalne pomiary dzięki niskim szumom przebiegów, typowo na poziomie 0,001 dB.
R&S ZNLE został wyposażony w duży ekran dotykowy WXGA o przekątnej 10,1”, zapewniając dobrą widoczność wszystkich przebiegów. Ekran dotykowy pozwala na powiększanie przebiegów za pomocą gestów wielodotykowych. Starannie zorganizowany interfejs użytkownika pozwala uzyskać dostęp do każdej funkcji , przy czym wykonuje się minimalną liczbę ruchów. Dostępne są przyciski Undo / Redo pozwalające cofnąć lub ponowić ostatnio wprowadzone zmiany. Menu pomocy reagujące na kontekst zapewniają interaktywną obsługę różnorodnych funkcji i parametrów.
Również kalibracja przyrządu jest prosta. R&S ZNLE wykorzystuje znany z innych analizatorów ZNx Rohde & Schwarz kreator kalibracji. Kolejnym ułatwieniem jest funkcja „StartAuto Cal” zapewniająca automatyczną kalibrację za pomocą jednego przycisku.
Nowy wektorowy analizator obwodów R&S ZNLE jest już dostępny w ofercie Rohde & Schwarz oraz u wybranych dystrybutorów. Dodatkowe informacje można uzyskać na stronie przyrządu.
Przedstawicielstwo Rohde & Schwarz w Polsce: ul. Al. Jerozolimskie 92, 00-807 Warszawa, tel: 22 337 64 99.


Scanway zwiększa przychody, inwestuje w zaplecze produkcyjne i zawiera nowe kontrakty
Sieć Badawcza Łukasiewicz rozwija laboratoria przemysłu wysokich technologii
Grupa Volkswagen i Uniwersytet Techniczny w Brunszwiku zacieśniają współpracę badawczą w dziedzinie sztucznej inteligencji i mobilności 

![https://www.youtube.com/watch?v=BgxJVTwYJ-s Zapraszamy do obejrzenia filmu i wysłuchania krótkich wypowiedzi prelegentów Hardware Forum 2026 i organizatorów majowej konferencji dla inżynierów z branży elektronicznej: Konrad Bruliński z Lemontech, prof. Krzysztof Kulpa z Politechniki Warszawskiej, Zbigniew Huber z FLC, Ewa Załupska z firmy KROK, Jerzy Kozieł z MPTECH, Grzegorz Potyralski z VIGO Photonics, dr Krzysztof Czuba z Politechniki Warszawskiej, Anna Beata Kalisz Hedegaard z Quantum Security Defence, Adrian Cichosz z Elhurt Dystrybucja Anna Kamińska z Creotech Quantum, oraz Łukasz Jaeszke i Adam Jaeszke z TEK.day [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/05/tytulowe-film-1.png)



