Atmel AT42QT1011 – bezstykowy „mikroswitch”
Układ AT42QT1011 jest produkowanym przez firmę Atmel zintegrowanym kontrolerem „przycisku” zbliżeniowego (bezstykowego), charakteryzującym się prostotą aplikacji, dużą pewnością działania, brakiem konieczności kalibrowania, szerokim zakresem napięć zasilających i niewielkim poborem prądu.
| Artykuł przeglądowy na temat bezstykowych kontrolerów klawiatur firmy Atmel jest dostępny tu. |
Prezentowany w artykule układ można stosować jako detektor zbliżeniowy lub kontroler obsługujący 1-„przyciskową” klawiaturę bezstykową z wyjściem cyfrowym. Zastosowany przez producenta algorytm detekcji zmiany pojemności (Spread Spectrum Charge Transfer) jest wspomagany algorytmami DSP, dzięki którym kontroler nie wymaga kalibracji podczas pracy, radzi sobie także z wieloma zakłóceniami, jak na przykład zalaniem czujnika zbliżeniowego.
Podstawowe cechy układu AT42QT1011:
|
Schemat elektryczny projektu referencyjnego pokazano na rysunku 1. Jest to standardowy schemat aplikacyjny układu AT42QT1011, jedynie w celu ułatwienia sprawdzenia możliwości tego układu do wejścia S/M (Sync/Mode) dołączono zworkę pozwalającą ustawić na nim stany: niski lub wysoki, wejście można pozostawić niepodłączone (opis trybu pracy układu w każdym z tych przypadków zestawiono w tabeli 1). Najszybszą reakcję układu AT42QT1011 na zbliżenie palca uzyskuje się w trybie Fast, ale jest to okupione poborem prądu od 211 µA przy zasilaniu 1,8 V do 730 µA przy zasilaniu 5 V. W trybie Low Power pobór prądu jest co najmniej 10-krotnie mniejszy.
Rys. 1. Schemat elektryczny zestawu testowego
Tab. 1. Zestawienie trybów pracy układu AT42QT1011 w prezentowanym zestawie
| Stan na wejściu S/M | Zwarte styki JP2 | Oznaczenie pozycji JP1 na płytce | Tryb pracy |
| 0 | 1-2 | F | Fast – stan czujnika jest monitorowany z maksymalną częstotliwością |
| 1 | 2-3 | LP | Low Power – stan czujnika jest monitorowany w odstępach 80 ms |
| nie podłączone | jumper zdjęty | – | Sync – stan czujnika jest monitorowany z częstotliwością wyznaczaną przez sygnał zewnętrzny podawany na wejście M/S |
Na kolejnych rysunkach pokazano przebiegi na polu czujnikowym JP1 generowane przez układu AT42QT1011:
- na rysunku 2: szczegółowy wygląd paczek przebiegów próbkujących w trybie Fast i Low Power,
Rys. 2. Paczki impulsów próbkujących w trybach Fast i LowPower
- na rysunku 3: grupy paczek przebiegów próbkujących (każda składa się z przebiegów pokazanych na rysunku 2) w trybie Fast,
Rys. 3. Grupy paczek przebiegów próbkujących w trybie Fast






Fotowoltaika perowskitowa: od wydajności laboratoryjnej do masowej komercjalizacji
Czy kamery termowizyjne pokazują nam całą prawdę?
Generowanie ujemnego napięcia odniesienia – eksperymenty z zestawem ADALM2000 

![https://www.youtube.com/watch?v=XkeyLmtLfxo O konkursie organizowanym przez firmę TRUMPF Huettinger i polskie uczelnie techniczne opowiada Alicja Peresada i prof. Jacek Rąbkowski oraz kilkoro nagrodzonych dyplomantów: mgr inż. Jakub Dobosz, inż. Maja Zielińska, dr inż. Jakub Kołodziej, dr inż Weronika Hryniewska-Guzik i dr inż. Grzegorz Bartyzel. Zapraszamy do obejrzenia filmu! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/07/TRUMPF-czolowka.png)

![https://www.youtube.com/watch?v=gHcP8AajoN4 Szymon Robak oprowadza po katowickim Laboratorium Badań Kompatybilności Elektromagnetycznej w Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytucie Sztucznej Inteligencji i Cyberbezpieczeństwa. Zapraszamy na film! [materiał redakcyjny]](https://mikrokontroler.pl/wp-content/uploads/2026/06/Szymon-Robak-tytulowe.png)

